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日本日置C测试仪HIOKI 3506-10对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试，模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量，提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度，1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量，根据BIN的测定区分容量
日本日置C测试仪HIOKI 3504-60封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等，高速测量2ms，能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断，对应测试线，比较器功能/触发输出功能，3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试，35...
日本日置C测试仪HIOKI 3504-50封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等，高速测量2ms，能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断，对应测试线，比较器功能/触发输出功能，3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试，35...
日本日置C测试仪HIOKI 3504-40封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等，高速测量2ms，能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断，对应测试线，比较器功能/触发输出功能，3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试，35...
