日本日置电阻计RM3542A
RM3542Azui适合于自动设备的电阻计，可测量极小电子元件
● 通过施加电压限制功能，检查电压可以改为5V以下
● 控制冲击电流的接触改善功能，支持测量极小元件
● 丰富的测量，确保检测电压，实现稳定测量
● 缩放功能能够补偿实装状态或检查阶段的偏差
主机不带治具。由于考虑到要组装至自动设备中，因此请客户按照用途自行制作。
RM3542A外加电压限制功能能轻松测量极小电子元件（0201尺寸）
通过将测量时的外加电压限制在5V以下，额定电压较小的0201尺寸的原件无需外加压力即可进行测量。
RM3542A快速、准确的接触，接触改善功能
与测试物接触时，可以刺破探头和测试物之间的氧化膜和污垢，改善接触状态。通过改善接触不良实现稳定测量，而且能降低接触错误率，从而提供生产效率。
RM3542A针对低功率测量的接触改善功能
进行接触改善时，通过控制流出测试物中的冲击电流，可以将接触改善的使用范围扩大至小型的铁氧体磁珠或0201尺寸的极小电阻检查中。
RM3542A使用缩放功能可以补偿并测量实际安装状态
通过缩放功能， 实际安装时和单独下能够补偿检查时的电阻值的差异（探测位置的影响等）。在进行分流等低电阻的电流检测电阻的检查发挥作用。
日本日置电阻计RM3542A的测量参数：
| 电阻测量量程 | [Low Power OFF时]量程100mΩ (zuida显示120.0000mΩ, 分辨率0.1μΩ) ～100MΩ(zuida显示120.0000MΩ, 分辨率100Ω), 16档切换 [Low Power ON时]量程1000mΩ (zuida显示1200.000mΩ, 分辨率1μΩ) ～1000Ω (zuida显示1200.000Ω, 分辨率1mΩ), 6档切换 |
|---|---|
| 显示 | 单色图形LCD240 × 64 dot, 白色LED背光灯 |
| 测量精度 | [量程100mΩ, SLOW时] ±0.015 % rdg. ±0.002 % f.s. [量程1000Ω, SLOW时] ±0.006 % rdg. ±0.001 % f.s. (更高精度) |
| 测试电流 | [量程100mΩ时] DC 100mA～[量程100MΩ时] DC 100nA |
| 开路端子电压 | DC 20 V max. 施加电压限制功能ON时：DC 10 V以下 |
| 采样 | FAST, MED, SLOW |
| 测量时间Low Power OFF时 | [量程100Ω, 1000Ω时] FAST 0.9 ms, MED 3.6 ms, SLOW 17 ms (zui短测量时间) |
| 累积时间 | 检测电压的读取时间: 0.1ms～100.0ms, 1～5 PLC: 50Hz时, 1～6 PLC: 60Hz时 (PLC:供电电源的1个周期) |
| 其他功能 | 比较器(设置值和测量值的比较判定), 延迟设置, 施加电压限制功能能,缩放功能,偏压补偿(OVC), 测量异常检测, 探头短路检测, 接触改善, 存储功能, 同级运算, 设置监视(和另一台RM3542的测量条件比较), 重试, 触发功能等 |
| 接口 | RS-232C，打印机，GP-IB（-51型号） |
| 外部输入输出 | 触发、保持输入、比较器输出等，设置监视端子 |
| 电源 | AC100～240 V, 50/60 Hz, 30 VA max. |
| 体积及重量 | 260W × 88H × 300D mm, 2.9 kg |
| 附件 | 电源线×1, EXT. I/O用公头连接器×1, 使用说明书×1, 操作指南×1 |
日本日置电阻计RM3542A的选件：
SMD测试治具IM9100：直接连接型，底部有电极SMD用，DC～8MHz，可测量样品尺寸：0402～1005（JIS）
测试治具9262：DC～8 MHz, 直接连接型
SMD测试治具9263：直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
4端子测试探头 9140：DC～100kHz, 1m长
GP-IB连接线9151-02：2m长
RS-232C 连接线 9637：9pin-9pin，1.8m长
